|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6516 van 6539 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray reflectivity of multiple delta-type doping profiles in silicon |
| Auteur: |
Keimel, J. Krutzenbichler, A. Fritsch, G. |
| Verschenen in: |
Physica. B, Condensed matter |
| Paginering: | Jaargang 198 (1994) nr. 1-3 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
1994 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6516 van 6539 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |